半导体光电器件检测项目与标准解析
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样品大小:根据样品大小选择寄样或上门
展现样式:电子版
检测周期:3-15个工作日(可加急)
检测项目:
低温存储试验,冷热冲击试验,微米级长度测量,温度偏置寿命试验,温度偏置寿命试验(脉冲),温度循环偏置试验,温度循环试验,温湿度偏压寿命试验,温湿度存储试验,高温存储试验
检测标准:
1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验
2、JESD22-A105C; Method A, B (Jan 2004) 温度循环偏置试验
3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验
5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验
6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)
7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验
8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验
9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)
10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)
12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分 试验B:高温
13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;