半导体光电器件检测项目与标准解析

2023-11-28 14:11:04 责任编辑：

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

低温存储试验,冷热冲击试验,微米级长度测量,温度偏置寿命试验,温度偏置寿命试验（脉冲）,温度循环偏置试验,温度循环试验,温湿度偏压寿命试验,温湿度存储试验,高温存储试验

检测标准：

1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验

2、JESD22-A105C; Method A, B (Jan 2004) 温度循环偏置试验

3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验

5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验

6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验

8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验

9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验第2-67部分:试验方法试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)

10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则

11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)

12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分试验B：高温

13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；