CMOS数字集成电路检测项目与标准解析

2023-11-29 10:15:54 责任编辑：

检测报告如何办理?检测的项目和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

电源电流,输入电流,输出低电平电压,输出低电平电流,输出高电平电压,输出高电平电流,功能检验,温度循环,稳定性烘焙,老炼试验,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,静态条件下电源电流,电源电流I_{DD,输入低电平电流I_{IL,输入电流I_{I,输入高电平电流I_{IH,输出低电平电压V_{OL,输出低电平电流I_{OL,输出高电平电压V_{OH,输出高电平电流I_{OH,输出高阻态时低电平电流,输出高阻态时高电平电流,输入高电平电流,输入低电平电流,输入钳位电压V_{IK,输出高阻态电流I_{OZH,输出高阻态电流I_{OZL,输出短路电流I_{OS,输出高阻态电流I_oz}}}}}}}}}}}}

检测标准：

1、GB/T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998

2、GB/T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 /方法41

3、IIH SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 IIH SJ/T10741-2000

4、SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.15

5、SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2018

6、SJ/T10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 5.10

7、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

8、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1010.1

9、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 Ⅳ.3.6

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