军用电子元器件（破坏性物理分析）检测项目与标准解析

百检检测是专业第三方检测机构,提供相关成分试验检测等.周期短,价格优,出具国家认证资质报告

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

X射线检查,内部目检,制样镜检,声学扫描显微镜检查,外部目检,密封,引出端强度,扫描电子显微镜（SEM）检查,玻璃钝化层完整性检查,粒子碰撞噪声检测,芯片剪切强度,键合强度,内部气体成份分析,扫描电子显微镜检查,玻璃钝化层的完整性检查,芯片粘接的超声检测

检测标准：

1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法209

2、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析

3、GJB4027A-2006 扫描电子显微镜检查

4、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3

5、GJB360A-1996 X射线检查

6、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1

7、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法

8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法2077

9、SJ20527A-2003 外部目检

10、GJB360B-2009 X射线检查

11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2030

12、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查

13、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3

14、GJB-4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析

15、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

16、GJB128A-1997 扫描电子显微镜检查

17、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11

18、GJB548A-1996 外部目检

19、GJB915A-1997 外部目检

20、GJB 915A-1997 纤维光学试验方法 方法401

检测检测特点：

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准

4、免费初检，初检不收取检测费用

5、自助下单 快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、国内通用；