半导体光电耦合器检测项目与标准解析

检测报告如何办理?检测的项目和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测项目：

低电平电源电流,反向击穿电压,反向漏电流,正向压降,电流传输比,输出低电平电压,输出高电平电压,集电极-发射极截至电流,集电极-发射极饱和电压,集电极发射极击穿电压,高电平电源电流,反向击穿电压（二极管）V_R,发射极-集电极击穿电压 V_ECO,正向电压（输入二极管）V_F,电流传输比CTR,输入反向漏电流 I_R,集电极-发射极截止电流 I_CEO,集电极-发射极饱和电压 V_CE(sat),低电平电源电流I_{CCL,反向击穿电压VBR,反向击穿电压VR,反向漏电流IR,反向电流IR,发射极-集电极击穿电压VECO,正向电压VF,正向电流IF,电流传输比CTR,电流传输比CTR（Ic）,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,集电极-发射极击穿电压V（BR）CEO,集电极-发射极截止电流ICEO,集电极-发射极饱和电压VCES,集电极-发射极饱和电压VCE（sat）,高电平电源电流ICCH,正向电压VF,正向电流IF,反向击穿电压VR,反向电流IR,集电极-发射极击穿电压VCEO,集电极-发射极饱和电压VCES,集电极-发射极截止电流ICEO,电流传输比 CTR,正向电压,反向电流,集电极发射极饱和电压,输出截止电流,正向电压（输入二极管）VF,反向击穿电压（二极管）VR,发射极-集电极击穿电压 VECO,集电极-发射极截止电流 ICEO,输入反向漏电流 IR,集电极-发射极饱和电压 VCE(sat),正向电压VF,反向漏电流IR,发射极-集电极击穿电压VECO,输出高电平电压VOH,输出低电平电压VOL,高电平电源电流ICCH,低电平电源电流ICCL,脉冲上升时间、下降时间、延迟时间,正向电流,集电极-发射极击穿电压,暗电流,反向电流IR（二极管）,正向电压VF（输入二极管）,正向电流IF（二极管）,反向击穿电压VBR（二极管）,集电极-发射极击穿电压VBR（CEO）,集电极-发射极饱和电压VCE（sat）,输出截止电流ICEO}

检测标准：

1、SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法5.1 SJ/T 2215-2015 方法5.1

2、SJ/T2215-2015 半导体光电耦合器测试方法 5.17

3、SJ/T 2215-2015 《半导体光电耦合器测试方法》 /5.17

4、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。