半导体集成电路-存储器检测项目与标准解析

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

工作状态时电源电流,待机状态时电源电流,输入低电平电流,输入高电平电流,输出低电平电压,输出高电平电压,输出高阻态电流,工作状态电源电流,输出高阻态时低电平电流,输出高阻态时高电平电流,静态条件下的电源电流,动态条件下的总电源电流,全0（全1）图形,单1（单0）图形,存储器的特定时间,对角线图形,棋盘格图形,输出短路电流

检测标准：

1、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998

2、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇 第2节4

3、 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇/第3节/6

4、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇/第2节/1

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