半导体集成电路时基电路检测项目与标准解析

百检检测第三方检测机构，为企业提供相关CNAS、CMA、CAL等资质认证检测报告，始终以以企业为首任，以客户为中心，在严格的程序下开展检测工作，为客户提供产品检测及质量控制的解决方案，竭诚为广大客户提供科学科学的检验、研发分析服务。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

复位触发电流I_R,阈值电压V_T,阈值电流I_T,静态电源电流I₊,复位电压,复位电流,触发电压,触发电流,阈值电压,阈值电流,静态电源电流,复位电压V_{R,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,阈值电压VTR,阈值电流IT,静态电源电流I+,控制端电压,电源电流,复位电压VR,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,阈值电压VT,阈值电流IT,静态电源电流I+,输出低电平电压,输出高电平电压,复位电压VR,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH}

检测标准：

1、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

2、GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节 1

4、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92

5、GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 GB/T 14030-1992

6、GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.2

7、GB/T14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

8、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

9、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法37

百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；