半导体集成电路电压比较器检测项目与标准解析

百检检测是专业第三方检测机构,提供相关成分试验检测等.周期短,价格优,出具国家认证资质报告

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

输入失调电压,输入失调电流,输入偏置电流,开环电压增益,静态功耗P_D,共模抑制比,电源电压抑制比,输出高电平电压,静态电源电流,共模抑制比KCMR,开环电压增益A_{VD,最大共模输入电压VICM,最大差模输入电压VIDM,输入偏置电流IIB,输入失调电压VIO,输入失调电流IIO,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,静态功耗PD,高电平输出电流IOH,低电平输出电流,输出低电平电压,高电平输出电流,开环电压增益(AVD),输入偏置电流(IIB),输入失调电压(VIO),输入失调电流(IIO),输出低电平电压(VOL),输出低电平电流(IOL),静态功耗(PD),寿命试验,最大共模输入电压,输出漏电流,输出电压幅度,静态功耗PD,静态功耗,最大差模输入电压,输出高电流,输出低电流,共模电压输入范围,差模输入电压,输出电流,低电平输出电流 IOL,开环电压增益 AVD,输入偏置电流 IIB,输入失调电压 VIO,输入失调电流 IIO,输出低电平电压 VOL,静态功耗 PD,高电平输出电流 IOH,输入偏置电流温度系数,输入失调电压温度系数,输入失调电流温度系数,输出高电平电流,输出低电平电流,低电平输出电流IOL,共模抑制比CMRR,共模电压输入范围VOC,差模输入电压VID,开环电压增益AVD,最大共模输入电压VICM,最大差模输入电压VIDM,电压增益Avo,输入偏置电流IIB,输入失调电压VIO,输入失调电压VOS,输入失调电流IIO,输入失调电流IOS,输出低电平电压VOL,输出电流IO,输出高电平电压VOH,静态功耗PD,静态电源电流IS,高电平输出电流IOH,低电平输出电流 IOL,共模抑制比 KCMR,开环电压增益 AVD,电源电压抑制比 KSVR,输入偏置电流 IIB,输入失调电压 VIO,输入失调电流 IIO,输出低电平电压 VOL,输出高电平电压 VOH,选通电流 IST,静态功耗 PD,高电平输出电流 IOH,共模抑制比KCMR,开环电压增益AVD,电源电压抑制比KSVR,输入偏置电流IIB,输入失调电压VIO,输入失调电流IIO,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,电源电压抑制,低电平选通电流 IST（L）,共模抑制比 KCMR,开环电压增益 AVD,输入偏置电流 IIB,输入失调电压 VIO,输入失调电流 IIO}

检测标准：

1、SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 5.16

2、SJ/T10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 5.1

3、GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 4.7

4、SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 方法 5.9

5、SJ/T10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 5.9

6、GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 /1005.1

7、GB/T6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 4.7

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。