半导体集成电路运算放大器检测项目与标准解析

百检检测第三方检测机构，为企业提供相关CNAS、CMA、CAL等资质认证检测报告，始终以以企业为首任，以客户为中心，在严格的程序下开展检测工作，为客户提供产品检测及质量控制的解决方案，竭诚为广大客户提供科学科学的检验、研发分析服务。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

输入失调电压,输入失调电流,输入偏置电流,电源电流,开环电压增益,共模抑制比,电源电压抑制比,输出峰-峰值电压,短路输出电流,开环电压放大倍数,电压转换速率（压摆率）,输出电压范围,共模抑制比K_CMR,开环电压增益AVD,最大输出电压V_OPP,最大输出电流I_OM,电源电压抑制比 K_SVR,输入偏置电流I_Ib,输入失调电压V_IO,输入失调电流I_IO,静态功耗PD,共模抑制比KCMR,电源电压抑制比KSVR,输入偏置电流I_IB,输出峰峰电压Vopp,静态电源电流,差分放大器输出电压范围,输出电压最大变化率,电源电压抑制比K_SVR,共模抑制比(K_CMR),开环电压放大倍数(A_VO),电源电压抑制比(K_SVR),电源电流(I_CC),输入偏置电流(I_IB),输入失调电压（V_IO）,输入失调电流(I_IO),输出电压范围(V_O),输出峰峰电压,大信号电压增益,电压转换率,输出电压幅度,共模抑制比CMRR,开环电压增益A_{VD,电压增益Avo,电压转换速率（压摆率）SR,电源电压抑制比PSRR,输入偏置电流IIB,输入失调电压VIO,输入失调电压VOS,输入失调电流IIO,输入失调电流IOS,输出峰-峰值电压Vopp,输出电压幅度Vopp,输出电压转换速率（压摆率）SR,静态功耗PW,静态电源电流IS,驱动低电平,驱动高电平,增益带宽积,输出电压转换速率,输出短路电流,静态功耗,共摸抑制比,功耗,电压放大倍数,共模抑制比KCMR,开环电压增益AVD,电源电压抑制比KSVR,输入偏置电流IIB,输入失调电压VIO,输入失调电流IIO,输出峰-峰电压VOPP,输出电压范围(V,输入失调电流(I,电源电压抑制比(K,开环电压放大倍数(A,输入偏置电流(I,输入失调电压（V,电源电流(I,共模抑制比(K,输入失调电压（VIO）,输入失调电流(IIO),输入偏置电流(IIB),开环电压放大倍数(AVO),共模抑制比(KCMR),电源电压抑制比(KSVR),输出电压范围(VO),电源电流(ICC),寿命试验,输出峰-峰值电压VOPP}

检测标准：

1、GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

2、SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 条款2.8

3、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

4、GB/T 17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第III篇第2节、第IV篇第2节

5、GB 9425-1988 半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

6、SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996

7、SJ/T10738-1996/ 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 2.8

8、GB/T17940-2000 半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第IV篇/第2节/5

9、GB 9425-1988 半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 5.2.5

10、QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.11

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。