半导体集成电路（时基电路）检测项目与标准解析

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

复位触发电流I_R,阈值电压V_T,阈值电流I_T,静态电源电流I₊,复位电压V_{R,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,阈值电压VTR,阈值电流IT,静态电源电流I+,复位电压,复位电流,控制端电压,电源电流,触发电压,触发电流,输出低电平电压,输出高电平电压,阈值电压,阈值电流,静态电源电流,复位电压VR,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,阈值电压VT,阈值电流IT,静态电源电流I+,复位电压VR,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH}

检测标准：

1、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

2、GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节 1

4、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92

5、GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 GB/T 14030-1992

6、GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.2

7、GB/T14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

8、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

9、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法37

检测检测特点：

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准

4、免费初检，初检不收取检测费用

5、自助下单 快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、国内通用；