半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测项目与标准解析

百检检测第三方检测机构，为企业提供相关CNAS、CMA、CAL等资质认证检测报告，始终以以企业为首任，以客户为中心，在严格的程序下开展检测工作，为客户提供产品检测及质量控制的解决方案，竭诚为广大客户提供科学科学的检验、研发分析服务。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

零点误差,零点误差温度系数,失调误差,失调误差温度系数,增益误差,增益误差温度系数,线性误差,线性误差温度系数,微分线性误差,微分线性误差温度系数,基准电压,数字输出高电平电压,数字输出低电平电压,数字输入高电平电压,数字输入低电平电压,数字输入高电平电流,数字输入低电平电流,建立时间,转换时间,电源电压灵敏度,电源电流,功耗

检测标准：

1、QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-98

2、SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

3、QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 5.1.13

4、SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.2.1

百检网是一家综合性检测服务平台,汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质检测机构遍布全国各地,更多检测需求请联系咨询百检。