双极型晶体管检测项目与标准解析

样品的检测报告如何办理?检测的范围和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测项目：

发射机-基极截止电流（直流法）I_EBO,发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V_(BR)CBO,基极-发射极饱和电压V_BESat,集电极-发射极截止电流（直流法）I_CEO,集电极-发射极饱和电压V_CESat,集电极-基极截止电流（直流法）I_CBO,集电极电流为零时的发射极-基极击穿电压V_(BR)EBO,部分参数,发射极-基极击穿电压,发射极-基极截止电流,基极-发射极饱和电压,正向电流传输比,集电极-发射极截止电流,集电极-发射极饱和电压,集电极-基极击穿电压,集电极-基极截止电流,集电极-射极击穿电压,共发射极正向电流传输比的静态值,基极-发射极电压,开关时间,集电极-发射极击穿电压,集电极-基射极极击穿电压,发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,发射极-基极截止电流IEBO,基极-发射极饱和电压VBEsat,放大倍数HFE,集电极-发射极截止电流ICEO,集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,集电极-基极截止电流ICBO,击穿电压V_(BR)CBO,发射极-基极截止电流I_EBO,基极-发射极饱和电压V_BEsat,集电极-发射极截止电流I_CEO,集电极-发射极饱和电压V_CEsat,集电极-基极截止电流I_CBO,发射极-基极击穿电压V_(BR)EBO,基极-发射极电压V_BE,正向电流传输比h_21E,集电极-发射极击穿电压V_(BR)CEO,集电极-基极击穿电压V_(BR)CBO,噪声系数,时间参数,热阻(结-管壳),特征频率,电压参数,电容参数,电流传输比参数,电流参数,负载上的输出功率,输出导纳参数,阻抗参数,集电极效率,电流输出比,集电极-发射极击穿电压V(_BR)CEO,共发射极正向电流传输比,发射极-基级击穿电压,集电极-发射级击穿电压,集电极-基级击穿电压,共发射正向电流传输比,集电极-基极击穿电压,发射极-基极击穿电压,共发射极正向电流传输比h_{21E,发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,发射极-基极截止电流IEBO,基极-发射极饱和电压VBEsat,集电极-发射极击穿电压V(BR)CE,集电极-发射极截止电流ICEO,集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,集电极-基极截止电流ICBO,基极-发射极击穿电压,共发射极正向电流传输比（h21E）,发射极-基极击穿电压（V(BR)EBO）,发射极-基极截止电流（IEBO）,基极-发射极饱和电压(VBEsat）,集电极-发射极击穿电压（V(BR)CEO),集电极-发射极截止电流(ICEO),集电极-发射极饱和电压（VCEsat）,集电极-基极击穿电压（V(BR)CBO）,集电极-基极截止电流（ICBO）,发射极—基极击穿电压,集电极—发射极击穿电压,集电极—基极击穿电压,共发射极正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法）(h21E),发射极-基极截止电流(直流法)(IEBO),发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,基极-发射极电压(直流法)(VBE),基极-发射极饱和电压(直流法) (VBEsat),集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES),集电极-发射极饱和电压(直流法) (VCEsat),集电极-基极截止电流(直流法)(ICBO),集电极电流为零时的发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,发射极-基极击截止电流,基极-发射极饱和压降,集电极-发射极饱和压降,共发射极正向电流传输比（输出电压保持不变）（直流或脉冲法） h21E,发射极-基极击穿电压 V(BR)EBO,发射极-基极截止电流 IEBO,基极-发射极饱和电压 VBE(sat),集电极-发射极击穿电压(基极开路) V（BR）CEO,集电极-发射极截止电流 ICEO,集电极-发射极饱和电压 VCE(sat）,集电极-基极击穿电压 V(BR)CBO,集电极-基极截止电流 ICBO,发射极-基极击穿电压V（BR）EBO,发射极-基极截止电流IEBO,基极-发射极饱和压降VBEsat,基极-发射极饱和电压VBEsat,正向电流传输比H21E,正向电流传输比HFE,集电极-发射极击穿电压V（BR）CEO}

检测标准：

1、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

2、GB/T 4587-1994 IEC 747-7-1988 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第IV章 第1节9.6

3、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节10.2

4、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章第1节2.2

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

6、GB/T4587-94 半导体器件分立器件第7部分双极性型晶体管 第Ⅳ章第10.1，10.2条

7、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范 4

8、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第IV章 第1节10.2

9、GB/T 4587-1994 半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节

10、GB/T 4587-94(IEC 60747-7:1988) 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 Ⅳ1.14

百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；