发光二极管检测项目与标准解析

样品的检测报告如何办理?检测的范围和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

光通维持率,全部参数,LED平均光强测量,光通量测量（积分光度法）,光电及色度特性,尺寸,极限值（绝对最大额定值体系）,标志,K系数,主波长和颜色刺激纯度,人体模式静电放电敏感性,光通量和光通量效率,半强度角和角偏差（θ1/2）,峰值发射波长（λp）、光谱带宽和光谱功率分布,平均LED强度,开关时间,总电容,机器模式静电放电敏感性,机械资料（安装和焊接条件）,热阻,电压参数,电流参数,白光器件的显色指数,白光器件色温或相关色温,结温,色品坐标,色差,辐射功率和辐射效率,高发光效率器件的热阻,反向电压,反向电流,正向电压,X射线照相,主波长,光谱范围,光通量,内部检查,反向漏电流,发光强度,发光指向角,外观检查,尺寸测量,峰值波长,扫描电子显微技术和电子束显微分析,探针测试,横截面,正向导通电压,光谱辐射带宽Δλ,光通量维持寿命,半强度角θ1/2,反向电流IR,发光强度Iv（平均LED强度）,峰值发射波长λP,总光通量,显色指数(Ra),正向电压VF,相关色温,角偏差,辐射效率,辐射通量,颜色刺激纯度,发光强度Iv （平均LED强度）,峰值 发射 波长 λp,LED器件平均发光强度,色度学参数,光谱分布及其特性参数,半强度角,光通量效率,光谱功率分布

检测标准：

1、IES LM-80-08 LED光源光通维持率的测量

2、SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法 5.6.2

3、GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件 GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997)

4、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 8

5、GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997) 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件 Ⅲ-7.3

6、IEC 60747-5-3-2009 半导体分立器件和集成电路 第5-7部分:光电子器 3.3

7、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 5003-3.1.4、3.2.7

8、GB/T 12565-1990 《半导体器件 光电子器件分规范》 附录D

9、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

10、 JESD22-B101C-2015 外观检查

11、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 方法5003 3.4 e)

12、JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法

13、SJ/T 11393-2009 《半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范》 SJ/T 11393-2009

14、SJ/T 11400-2009 《半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范》 5

15、GB/T 12565-1990 《半导体器件 光电子器件分规范》 GB/T 12565-1990

16、QB/T 4057-2010 普通照明用发光二极管 性能要求

17、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 GB/T 18904.3－2002

18、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 3.3

19、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 1003-2.3

20、IEC 60747-3-2013 半导体器件分立器件 -第3部分：分立器件：信号，开关和整流二极管 6.2.2

百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；