塑封微电子器件检测项目与标准解析
百检检测是专业第三方检测机构,提供相关成分试验检测等.周期短,价格优,出具国家认证资质报告
检测流程
1、寄样
2、核对需求
3、针对性报价
4、双方确定,签订合同,开始实验
5、完成实验:检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动,可咨询工程师
6、出具检测报告,后期服务。
检测项目:
内部目检,扫描声学显微镜检查,扫描电子显微镜(SEM)检查,玻璃钝化层的完整性检查,外部目检,X射线检查,声学扫描显微镜,键合强度,SEM检查,玻璃钝化层完整性
检测标准:
1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目 1103
2、MIL-STD- 883K-2016 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883K-2016
3、MIL-STD-883K-2016 微电路试验方法标准方法 方法2009.12
4、GJB4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法
5、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法2073、2074
7、MIL-STD- 1580B-2014 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD-1580B-2014
8、MIL-STD-1580B-2014 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 要求16.5
9、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 2010.1、2013
10、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
检测检测特点:
1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;
3、工程师一对一服务,让检测更精准
4、免费初检,初检不收取检测费用
5、自助下单 快递免费上门取样;
6、周期短,费用低,服务周到;
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;
8、检测报告权威有效、国内通用;