晶体管检测项目与标准解析

样品的检测报告如何办理?检测的范围和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

发射极-基极击穿电压V_(BR)EBO,发射极-基极截止电流I_EBO,基极-发射极饱和电压V_BEsat,正向电流传输比h_FE,集电极-发射极击穿电压V_(BR)CEO,集电极-发射极截止电流I_CEO,集电极-发射极截止电流I_CER,集电极-发射极截止电流I_CES,集电极-发射极截止电流I_CEX,集电极-发射极饱和电压V_CEsat,集电极-基极击穿电压V_(BR)CBO,集电极-基极截止电流I_CBO,漏源击穿电压,集电极-发射极击穿电压,发射极-基极截至电流IEBO,发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,基极-发射极饱和电压VBEsat,常温功率老炼,集电极-发射极截至电流ICEO,集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-基极截至电流ICBO,高温反偏老炼,基射极电压,射基极关态电流,射基极反向击穿电压,直流增益,稳态热阻,集基极反向击穿电压,集基电极关态电流,集射极反向击穿电压,集射极饱和压降,集射电极关态电流,放大倍数,集电极-发射极饱和电压,放大倍数h_FE,集电极-发射极击穿电压V_{(BR) CEO},密封性检查,恒定加速度,正向电流传输比HFE,温度循环,稳态功率,粒子碰撞噪声检测试验（PIND）,高温反偏,高温寿命（非工作）,发射极-基极击穿电压V_(BR)EBO,发射极-基极截止电流I_EBO,基极-发射极饱和电压V_BEsat,集电极-发射极击穿电压V_(BR)CEO,集电极-发射极饱和电压V_CEsat,集电极-基极击穿电压V_(BR)CBO,集电极-基极截止电流I_CBO,共发射极电流放大倍数,发射极—基极击穿电压,发射极—基极间漏电流,基极—发射极间非饱和压降,基极—发射极饱和压降,集电极—发射极击穿电压,集电极—发射极漏电流,集电极—发射极间饱和压降,集电极—基极击穿电压,集电极—基极反向电流,共发射极正向电流传输比的静态值,发射极-基极击穿电压,发射极-基极截止电流,栅-源截止电压,栅-源阈值电压,漏极电流,集电极-发射极截止电流,集电极-基极击穿电压,集电极-基极截止电流,高温寿命,击穿电压,截止电流,直流放大倍数,饱和压降,基极-发射极饱和电压,共射极正向电流传输比,共发射极正向电流传输比,共射极正向电流传输比（H_FE),发射极-基极截止电流（_IEBO),基极-发射极饱和电压（V_BEsat),晶体管集电极-发射极击穿电压V_(BR)CEX,集电极-发射极截止电流（I_CEO),集电极-发射极饱和电压（V_CEsat),集电极-基极截止电流（I_CBO),反向击穿电压,正向电流传输比,集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO,集电极-发射极截止电流ICEO,发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,集电极-基极截止电流ICBO,发射极-基极截止电流IEBO

检测标准：

1、GB/T 4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

2、GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章 第5节

3、GB/T 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

4、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

5、GJB128A-97 半导体分立器件试验方法 3011

6、MIL-STD-750F:2012 半导体测试方法测试标准 3066.1

7、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3407

8、MIL-STD- 750F:2012 半导体分立器件试验方法 MIL-STD-750F:2012

9、 GJB128A-1997 GB4587-94 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分：双极型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-94 4

10、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

11、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节10

12、 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 Ⅳ 2.7

13、GB/T 4587-1994 IV2.2 《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶管》GB/T 4587-1994 IV2.2

14、GJB128A-1997 GB4587-94 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分：双极型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-94 9.6

15、GJB128A-1997 GB4587-95 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分：双极型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-95 5

16、GB/T 4587-94 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第IV通用测试方法和基准测试方法

17、GJB128A—1997 半导体分立器件试验方法 方法1039

18、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 Ⅳ1/10

检测报告作用：

1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；