晶体谐振器检测项目与标准解析

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报告资质：CNAS、CMA、CAL等

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

频率和等效电阻,低温,工作温度范围,标称频率,等效电阻,静态电容,频率精度,频率范围,频率范围f,谐振电阻R_r,谐振频率F₀,温度频差,频率允差,并电容,频率和等效电阻的测量,频率稳定度,频率温度稳定度,频率,基准温度容差FL,等效电阻RR,并电容C0,调整频差,低温贮存,高温贮存,温度循环,谐振电阻R,谐振频率F,部分参数,加工质量,可焊性,标志,外观和尺寸检查,密封,寄生（基频或泛音晶体元件）,电容量测试,外观尺寸的测量和检验,温度冲击,绝缘电阻,交变湿热试验,低温试验,恒定湿热试验,谐振电阻,谐振频率,高温试验,随机振动,扫频振动,加电老化,冲击,恒定加速度,热冲击,PIND,X射线照相检验,密封性,外部目检,内部目检,寄生,低温存储,工作温度范围和温度频差,可工作温度范围,并联电容,加速老化,晶体谐振器负载电阻RL,晶体谐振器动态电容Cl,晶体谐振器谐振频率fr,晶体谐振器谐振电阻Rr,晶体谐振器负载频率fL

检测标准：

1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996

2、GJB 2138-1994 石英晶体元件总规范 GJB 2138-1994

3、SJ 2052-1982 晶体谐振器负载电阻RL

4、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

5、GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

6、GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法第三部分：高温试验 GJB150.3A-2009

7、SJ2052-1982 30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法

8、GJB2138A-2015 石英晶体元件通用规范 4.6.9

9、GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A: 低温

10、GJB 2138-1994 石英晶体元件总规范 4.8.10.4

11、GJB 2138A-2015 石英晶体元件总规范 GJB 2138A-2015

12、GJB2138A-20154.6.9 频率允差

13、GBJ- 2138-94 《石英晶体元件总规范》 GBJ-2138-94

14、GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热（12h＋12h循环）

15、GJB2138-1994 石英晶体元件总规范 3.12

16、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

17、GJB 150.4A-2009 军用装备试验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-2009

18、GJB 7243-2011 军用电子元器件筛选技术要求 GJB 7243-2011

19、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

20、GJB 2138-94 石英晶体元件总规范 GJB2138-94

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