电子元器件试验检测项目与标准解析

检测产品的报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务，百检网拥有众多合作实验室，出具报告与认证真实有效，涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

低温测试,外观目检,密封,恒定加速度,温度循环（温度冲击）,粒子碰撞噪声检测,高低温运行试验,高温储存 (稳定性烘焙) /高温寿命 （非工作）,高温寿命试验/老炼试验,高温测试,可焊性

检测标准：

1、半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法1051 温度循环（温度冲击）

2、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法2020.1 微电子器件试验方法和程序方法

3、GJB 2888A-2011 有失效率等级的功率型电磁继电器通用规范 第4.8.3.2

4、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法1015.1 高温寿命试验/老炼试验

5、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法1014.2 微电子器件试验方法和程序方法

6、GJB548B-2005方法2003.1 可焊性

7、GJB128A-97方法2026 半导体分立器件试验方法

8、微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005方法2009.1 外观目检

9、GJB GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序方法GJB GJB 548B-2005

10、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

11、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法5004.2 微电子器件试验方法和程序方法

12、GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范 4.8.5条

13、GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999

14、GJB1513A-2009 混合和固体延时继电器通用规范 4.7.3条

15、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序方法GJB 方法5004.2

16、半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法1071 密封

17、密封电磁继电器筛选技术条件QJ789A-955.2、5.3 密封电磁继电器筛选技术条件

18、微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005方法2001.1 恒定加速度

19、混合和固体延时继电器通用规范GJB1513A-20094.7.2.3 温度循环（温度冲击）

20、QJ 3253-2005 气泡检漏试验方法 QJ3253-2005

检测报告作用：

1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；