表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管检测项目与标准解析

百检检测是专业第三方检测机构,提供相关成分试验检测等.周期短,价格优,出具国家认证资质报告

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

X射线检查,内部气体成份分析,内部目检,剪切强度,外部目检,密封,扫描电子显微镜(SEM)检查,粒子碰撞噪声检测(PIND),芯片粘接的超声检测,键合强度,扫描声学显微镜检查,扫描电子显微镜（SEM）检查,粒子碰撞噪声检测,粒子碰撞噪声检测（PIND）

检测标准：

1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 1003

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GJB4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1003第2.8条

4、军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.11条 剪切强度

5、军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.8条 内部目检

6、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

7、军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.9条 键合强度

8、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 方法 2070、方法2075

9、军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.6条 密封

10、军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.5条 粒子碰撞噪声检测

11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 2030

12、军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.2条 外部目检

检测报告作用：

1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；