信号(包括开关)和调整二极管检测项目与标准解析

百检检测第三方检测机构，为企业提供相关CNAS、CMA、CAL等资质认证检测报告，始终以以企业为首任，以客户为中心，在严格的程序下开展检测工作，为客户提供产品检测及质量控制的解决方案，竭诚为广大客户提供科学科学的检验、研发分析服务。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

反向电流IR,正向电压VF,功率检波效率(ηp),噪声电压(vn),工作电压的温度系数(αVz),恢复电荷(Qr),时间参数,电压参数,电压检波效率(ηv),电容参数,电导参数,电流参数,电阻参数,调整电流的温度系数(αIs),反向电流(I_R),工作电压（V_Z),微分电阻(r_Z),正向电压(V_F),击穿电压V_（BR）,反向漏电流 I_R,工作电压 V_Z,微分电阻 R_Z,正向电压 V_F,反向电流I_R,正向电压V_F,反向漏电流I_R,正向电压 V_F,击穿电压V_（BR）,反向漏电流 I_R,工作电压 V_Z,微分电阻 R_Z,反向电流,正向电压,击穿电压,工作电压,反向漏电流I_{R,正向直流电压VF,正向电压 VF,工作电压 VZ,击穿电压V（BR）,反向漏电流 IR}

检测标准：

1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995(IEC 60747-3:1985)

2、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 7.1.3.1

3、GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第IV章第1节1

4、GB/T 6571-1995(IEC 60747-3:1985) 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅲ章1节3.5

5、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-2015

6、GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 4016

7、GB/T4023-2015 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管》 7.1.4.1

8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4016

9、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

10、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章 第1节 1

11、GB/T6571-1995(IEC60747-3:1985) 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；