军用电子元器件检测项目与标准解析

样品的检测报告如何办理?检测的范围和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

光电器件DPA试验,半导体分立器件DPA试验,声表面滤波器DPA试验,开关DPA试验,敏感元件和传感器DPA试验,滤波器DPA试验,电容器DPA试验,电连接器DPA试验,电阻器DPA试验,石英晶体和压电元件DPA试验,线圈和变压器DPA试验,继电器DPA试验,集成电路DPA试验,X射线检查,内部气体成份分析,内部目检,制样镜检,外部目检,密封,引出端强度,扫描电子显微镜检查,玻璃钝化层的完整性检查,粒子碰撞噪声检测,芯片剪切强度,芯片粘接的超声检测,键合强度,声学扫描显微镜检查,扫描电子显微镜（SEM）检查,玻璃钝化层完整性检查

检测标准：

1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法209

2、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1201、1202

3、GJB4027A-2006 扫描电子显微镜检查

4、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3

5、GJB360A-1996 X射线检查

6、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1

7、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

8、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 4.3.2

9、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1018

10、SJ20527A-2003 外部目检

11、GJB360B-2009 X射线检查

12、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2010.1、2013、2014或2017.1

13、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查

14、GJB-4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析

15、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3

16、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

17、GJB128A-1997 扫描电子显微镜检查

18、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11

19、GJB548A-1996 外部目检

20、GJB915A-1997 外部目检

检测检测特点：

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准

4、免费初检，初检不收取检测费用

5、自助下单 快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、国内通用；