半导体集成电路CMOS电路检测项目与标准解析

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展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测项目：

输入低电平电流I_IL,输入高电平电流I_IH,输出低电平电压V_OL,输出高电平电压V_OH,输出高阻态电流I_OZ,静态条件下的电源电流,电源电流I_DD,输入低电平电压V_IL,输入高电平电压V_IH,输出低电平电流I_OL,输出低阻态时低电平电流I_OZL,输出由低电平到高电平传输延迟时间t_PLH,输出由高电平到低电平传输延迟时间t_PHL,输出高电平电流I_OH,输出高阻态时高电平电流I_OZH,输出高阻态时低电平电流I_OZL,输入出低电平电压V_IL,输入钳位电压V_IK,输出短路电流I_OS,密封,恒定加速度,温度循环,电源电流,稳定性烘焙,粒子碰撞噪声检测试验,老炼试验,输入低电平电压,输入低电平电流,输入高电平电压,输入高电平电流,输出低电平电压,输出低电平电流,输出高电平电压,输出高电平电流,输出高阻态时低电平电流,输出高阻态时高电平电流,输出漏电流,电源电流 I_DD,输入低电平电压 V_IL,输入低电平电流 I_IL,输入钳位电压 V_IK,输入高电平电压 V_IH,输入高电平电流 I_IH,输出低电平电压 V_OL,输出低电平电流 I_OL,输出短路电流 I_OS,输出高电平电压 V_OH,输出高电平电流 I_OH,输出高阻态时低电平电流 I_OZL,输出高阻态时高电平电流 I_OZH,传输时间,建立时间,滞后电压,输入正向阈值电压,输入负向阈值电压,输出高阻态时电流,电源电流 I_DD,输入钳位电压 V_IK,输入高电平电压 V_IH,输出低电平电压 V_OL,输出低电平电流 I_OL,输出高阻态电流,输入钳位电压V,输出低电平电流I,输出高电平电流I,输入低电平电流I,输入高电平电压V,输入出低电平电压V,输出短路电流I,输入高电平电流I,输出高电平电压 VOH,输出低电平电压 VOL,输入高电平电流 IIH,输入低电平电流 IIL,输出高电平电流 IOH,输出低电平电流 IOL,输出高阻态时高电平电流 IOZH,输出高阻态时低电平电流 IOZL,电源电流 IDD

检测标准：

1、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

3、GB/T 17574-1998方 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法38

4、GB /T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 第IV篇第3节第4.1条

5、IV 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第篇 GB/T 17574-1998方

6、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1010.1

7、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 1014.2

8、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节 4

9、SJ/T10741-2000 半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 5.15

10、GB/T  17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 GB/T 17574-1998

11、GB /T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 GB /T 17574-1998

12、SJ/T10741-2000/ 半导体器件集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.15

13、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法37

14、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.3

15、GB/T17574-1998 半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.2.4

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