半导体集成电路TTL电路检测项目与标准解析

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样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

输入低电平电流I_IL,输入钳位电压V_IK,输入高电平电流I_IH,输出低电平电压V_OL,输出短路电流I_OS,输出高电平电压V_OH,输出高阻态电流I_OZ,静态条件下的电源电流,电源电流I_CC,输入电流I_I,输出低电平电源电流I_CCL,输出高电平电源电流I_CCH,功能测试（静态测试、动态测试）,延迟时间,输入钳位电压,输出低电平电压,输出短路电流,输出高电平电压,输出高阻态电流,功能测试,电源电流,输入低电平电流,输入高电平电流,输出高阻态时低电平电流I_OZL,输出高阻态时高电平电流I_OZH,正向阈值电压下的输入电流I_T+,负向阈值电压下的输入电流I_T-,输出低电平时电源电流I_CCL,输出高电平时电源电流I_CCH,输入低电平电压,输入高电平电压,输出高阻态时低电平电流,输出高阻态时高电平电流,稳定性烘焙,输入电流,输出低电平时电源电流,输出高电平时电源电流,传输时间,功能测试：（静态测试、动态测试）,延迟时间t_{pd,电源电流ICC,电源电流IDD,结电容Cj,输入低电平电压VIL,输入低电平电流IIL,输入钳位电压VIK,输入高电平电压VIH,输入高电平电流IIH,输出低电平电压VOL,输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH,输出由低电平到高阻态传输延迟时间tPLZ,输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL,输出由高电平到高阻态传输延迟时间tPHZ,输出由高阻态到低电平传输延迟时间tPZL,输出由高阻态到高电平传输延迟时间tPZH,输出短路电流IOS,输出高电平电压VOH,输出高阻态时低电平电流IOZL,输出高阻态时高电平电流IOZH,电源电压,输出低电平电流,输出高电平电流,电源电流 ICC,输入低电平电流 IIL,输入电流 II,输入钳位电压 VIK,输入高电平电流 IIH,输出低电平时电源电流 ICCL,输出低电平电压 VOL,输出短路电流 IOS,输出高电平时电源电流 ICCH,输出高电平电压 VOH,输出高阻态时低电平电流 IOZL,输出高阻态时高电平电流 IOZH,工作状态时电源电流,建立时间,输入高电平电流/输入低电平电流,电源电流 ICC,输入低电平电流 IIL,输入电流 II,输入高电平电流 IIH,输出低电平时电源电流 ICCL,输出截止电流 IO（OFF）,输出高电平时电源电流 ICCH,输入簎位电压,输出低电平电压V,输出高阻态时高电平电流I,电源电流I,输出高阻态时低电平电流I,输出高电平电压V,正向阈值电压下的输入电流I,输入电流I,输出高电平时电源电流I,输出低电平时电源电流I,负向阈值电压下的输入电流I}

检测标准：

1、SJ/T10735-1996 半导体集成电路 ＴＴＬ电路测试方法的基本原理 2.25

2、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

3、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV 篇 第3 节6

4、GB/T  17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 GB/T 17574-1998

5、GB /T 17574-1998 《半导体集成电路第2部分：数字集成电路》 第IV篇第3节第4.3条

6、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法38

7、SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 2.25

8、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1008.1

9、SJ/T10735-1996/ 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 2.25

10、GB/T17574-1998 半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.2.4

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。