半导体集成电路霍尔效应数字开关电路检测项目与标准解析

2023-12-01 11:11:05 责任编辑：

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检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。

检测项目：

动作点磁感应强度B_{op,磁感应强度B_{op,输出低电平电压V_{OL,输出漏电流I_{OH,输出高阻态电流I_{OZ,静态条件下的电源电流,静态电源电流I_{S,动作点磁感应强度,复位点磁感应强度}}}}}}

检测标准：

1、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第2节 1

2、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字电路第Ⅳ篇测试方法第2节 7

3、GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇测试方法第2节1 半导体器件集成电路第2部分：数字电路

4、JB∕T 12785-2016 霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016

5、JB∕T 12785-2016 6.4 霍尔接近开关传感器

6、JB∕T 12785-2016 霍尔接近开关传感器

7、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

8、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字电路

检测检测特点：

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准

4、免费初检，初检不收取检测费用

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、国内通用；