现场可编程门阵列检测项目与标准解析

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测项目：

功能测试,输入低电平电流I_IL,输入高电平电流I_IH,输出低电平电压V_OL,输出高电平电压V_OH,输出高电平电压和输出低电平电压,输入高电平电流和输入低电平电流,上电电流,带上拉电阻的引出端输入电流,带下拉电阻的引出端输入电流,建立保持时间,数据保持电压,输入低电平漏电流,输入低电平电压,输入输出延迟时间,输入高电平漏电流,输入高电平电压,输出低电平电压,输出高电平电压,静态内核电源电流,静态接口电源电流

检测标准：

1、SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 5.4

2、SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018

3、SJT 11706-2017 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJT11706-2017

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