芯片剪切强度检测项目与标准解析
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样品大小:根据样品大小选择寄样或上门
展现样式:电子版
检测周期:3-15个工作日(可加急)
检测项目:
芯片剪切强度
检测标准:
1、MIL-STD-1580B 电气、电子和机电元器件破坏性物理分析方法
2、GJB4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法
3、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法2017
4、MIL-STD-883K 微电子器件试验方法和程序 方法2019
5、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2019.2
6、MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法和程序 方法2017
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