金属材料及其覆盖层厚度检测项目与标准解析
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检测周期:3-15个工作日(可加急)
报告资质:CNAS、CMA、CAL等
检测项目:
增益误差EG,跌落电流IDR,增益误差,线性误差,跌落电流,输出低电平时电源电流,输出高电平时电源电流,采样-保持失调电压,采集时间,馈通误差,增益误差EG,跌落电流IDR,采样-保持失调电压VOS,增益误差EG,跌落电流IDR,采样-保持失调电压VOS,采样-保持失调电压VOS,电源电流,输入低电平电流,输入电流
检测标准:
1、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分 数字集成电路 GB/T 17574-1998
2、GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993
3、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分 数字集成电路 第IV篇第2节
4、GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样保持放大器测试方法的基本原理 4.2
5、GB/T14115-1993 半导体集成电路采样、保持放大器测试方法的基本原理
6、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇/第2节4
百检检测流程:
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;