集成电路-MCU 芯片检测项目与标准解析

样品的检测报告如何办理?检测的范围和标准有哪些?今天百检检测小编带您了解相关检测业务具体需要哪些检测,同时百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

低温工作寿命检测,低温读写,功能检测,常温读写＋保存数据退化及只读检测,无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST),早夭期寿命检测,温度循环检测（TC）,湿敏等级检测,电气性能检测,芯片的 DPI 传导抗扰度,芯片的 EFT 传导抗扰度,芯片的 PESD 传导抗扰度,芯片辐射电场抗扰度,闩锁检测（Latch-up）,静态高温长时间保存下数据退化检测,静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）,静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）,预处理检测,高加速温湿度寿命检测（HAST）,高温存储检测（HTSL）,高温工作寿命检测,高温读写＋保存数据退化检测,机械性能检测

检测标准：

1、T/CIE073-2031 预处理检测

2、T/CIE073-2030 湿敏等级检测

3、T/CIE073-2033 高加速温湿度寿命检测（HAST）

4、T/CIE073-2032 无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)

5、T/CIE073-2035 温度循环检测（TC）

6、T/CIE073-2034 高温存储检测（HTSL）

7、T/CIE073-2037 静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）

8、T/CIE073-2036 静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）

9、T/CIE073-2039 芯片辐射电场抗扰度

10、T/CIE073-2038 闩锁检测（Latch-up）

11、T/CIE 073—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 8 部分： MCU 芯片 T/CIE 073—2020

12、T/CIE073—2020 湿敏等级检测

13、T/CIE073-2040 芯片的 DPI 传导抗扰度

14、T/CIE073-2042 芯片的 PESD 传导抗扰度

15、T/CIE073-2020 电气性能检测

16、T/CIE073-2041 芯片的 EFT 传导抗扰度

17、T/CIE073-2021 功能检测

18、T/CIE073-2024 高温工作寿命检测

19、T/CIE073-2023 早夭期寿命检测

20、T/CIE073-2026 静态高温长时间保存下数据退化检测

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；