集成电路-非易失性存储器检测项目与标准解析

2023-12-05 09:40:50 责任编辑：

百检检测第三方检测机构，为企业提供相关CNAS、CMA、CAL等资质认证检测报告，始终以以企业为首任，以客户为中心，在严格的程序下开展检测工作，为客户提供产品检测及质量控制的解决方案，竭诚为广大客户提供科学科学的检验、研发分析服务。

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

低温工作寿命检测,低温读写,常温读写＋保存数据退化及只读检测,接口协议检测,擦写读取检测,无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST),早夭期寿命检测,温度循环检测（TC）,湿敏等级检测,电气参数检测,芯片的 DPI 传导抗扰度,芯片的 EFT 传导抗扰度,芯片的 PESD 传导抗扰度,芯片辐射电场抗扰度,闩锁检测（Latch-up）,静态高温长时间保存下数据退化检测,静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）,静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）,预处理检测,高加速温湿度寿命检测（HAST）,高温存储检测（HTSL）,高温工作寿命检测,高温读写＋保存数据退化检测

检测标准：

1、T/CIE 070—2020 工业级高可靠集成电路评价第 4 部分：非易失性存储器 T/CIE 070—2020

2、T/CIE070—2020 工业级高可靠集成电路评价第 4 部分：非易失性存储器 5.6.3

3、T/CIE 070—2020 工业级高可靠集成电路评价第 4 部分：非易失性存储器 5.7.3

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。